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快速高精多晶X射線粉末衍射儀

簡要描述:德國HUBER公司生產的G670快速高精多晶X射線粉末衍射儀,精度高,可定制化程度高,ji大限度地豐富了X射線衍射儀的使用場景,擴大了使用范圍,該系統搭配不同的配置可分別實現“超微量、超高壓、超高溫、超低溫、單晶多晶測量"等全部研究需求。

  • 產品型號:G670
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2021-06-28
  • 訪  問  量:2971

詳細介紹

     X射線衍射儀可在常規環境中無損分析樣品,進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且,可通過峰面積計算進行定量分析??赏ㄟ^半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密X射線結構解析等各種分析。

     德國HUBER公司生產的G670快速高精多晶X射線粉末衍射儀,精度高,可定制化程度高,ji大限度地豐富了X射線衍射儀的使用場景,擴大了使用范圍,該系統搭配不同的配置可分別實現“超微量、超高壓、超高溫、超低溫、單晶多晶測量”等全部研究需求。

以下將詳細為您介紹G670快速高精多晶X射線粉末衍射儀的特點

核心結構

img1

Guinier Camera G670

     Huber G670快速高精X射線粉末衍射儀*以Guinier幾何結構,提供了一種現代圖像板檢測方法(image plate)。

     在許多Guinier相機中,有著100多年歷史的濕法影印技術已被逐步計數閃爍探測器和比例探測器所取代。雖然這使采集數字數據成為可能,但不能顯著減少測量時間,測量時間依舊保持在幾小時到幾天的范圍內。與此不同的是,使用Huber的圖像板檢測方法,可以在幾分鐘內獲得所需的數據。

     與傳統的Guinier相機相似之處的是它的幾何結構和高分辨率——Huber G670已然是一款成熟的衍射儀。

 

成像原理——*的成像板技術

 由聚酯制成的柔性安裝箔上涂有由晶體組成的均勻粉末的發光存儲材料(顆粒大小約0.005mm),即由氟化鋇和微量二價銪組成的光刺激熒光粉作為發光中心(BaFBr:Eu2+)。

圖像存儲箔片位于Guinier相機670中,敏感面向內,jing確地對準在半徑為90mm的焦圓上。它的曝光方式與以前使用的濕法影印技術相同。之后,在約5秒的時間內,用垂直的線性紅色二極管產生的激光束掃描成像板。

img2

由此產生的藍色光激勵發光(PSL)從受X射線照射的區域發出,在掃描過程中由光電倍增管放大,然后記錄。初始的模擬信號通過一個16位的A /D轉換器轉換成數字計數。

通過白色鹵素燈,可以在10秒內擦除已儲存的圖像結構,并支持下一次成像。

除圖像存儲箔外,670相機的外殼還包括帶有光電倍增管和前置放大器的激光記錄單元,以及鹵素擦除燈。

這款小巧的Guinier粉末衍射儀集成了傳統的濕法影印技術的高分辨率,及圖像板檢測技術的高靈敏度。因此,它能夠在盡可能短的時間內提供數字粉末衍射圖,然后可以通過Rietveld分析或類似的方法進一步處理。

所提供的測量軟件在MS-Windows下運行,并將多可達20001個計數點的衍射圖文件存儲成各類標準文件格式。

組件

多種多樣的試樣架

平板粉末試樣架670.1是在正常實驗室條件下測定粉末試樣的標配。 在高光強下,它可以產生非常精細的理想峰。

將粉末固定在一個尺寸為10 x 20mm,6μm厚的聚酯箔上。X射線以45°的角度不對稱地穿透樣品表面,同時樣品在其平面內以約1Hz的振幅振蕩,振幅為10mm。此法消除了由不同晶向的粉末顆粒引起的強度變化。

img4

Sample Changer 670.120

標準平板粉末試樣架670.1可換為多通道粉末樣品試樣架。配合非對稱的X射線,可裝載6份不同樣品。同時配備另一定位器,方便客戶測樣的同時進行制樣工作。經過步進電機的驅動,將樣品移動到測量位置,并在該位置附近提供連續的振蕩,類似于單樣品試樣架,運行頻率約為1Hz。

多樣品定位器可反復拆卸且操作簡單,位置偏差不超過0.01mm,因此小化了由于樣品位置不同帶來的誤差。電子硬件系統適配G670控制系統,所有定位動作均由標準的G670程序控制。

 基準調整裝置

img6

Adjustment Base 601

對于除670.6外的所有相機配置,都需要基準調整裝置601。

它包括所有用于調整相機位置的工具和Guinier單色儀611。

根據X射線的輻射波長,可使用不同的晶體615/616,見單獨的產品冊。由于空間原因,激光加熱爐670.31和低溫器件670.4,需要使用616系列晶體。

單色器

img7

Monochromator 611

Gunier單色器611有一個用于聚焦Johansson-Guinier型單色器晶體的底座。安裝在U形金屬框架內,因此可以很容易地插入和更換。

多功能外殼具有高定位自由度,這對微調在X射線管光束路徑上的晶體至關重要。

為了jing確限制x射線束的橫截面,設計了多種孔徑。

單色儀主要用于細聚焦X射線管( 0.4x8mm)的線路側,*濾除Kα2 。

 

img8

Monochromator Crystals 615/616

Guinier 晶體單色器615/616參數

Huber#Anode Kα1【A】 Cryst.hkl2θ【°】

615002

Cu

1.54060

Ge

111

13.640

615004

Cr

2.28962

Ge

111

20.517

615006

Fe

1.93597

Ge

111

17.238

615008

Co

1.78892

Ge

111

15.893

615010

Mo

0.70926

Ge

220

10.212

615012

Ag

0.55936

Ge

220

8.038

615002

Cu

1.54060

Ge

111

13.640

615004

Cr

2.28962

Ge

111

20.517

615006

Fe

1.93597

Ge

111

17.238

615008

Co

1.79892

Ge

111

15.893

615010

Mo

0.70926

Ge

220

10.212

615012

Ag

0.55936

Ge

220

8.038


附件:

單色鏡

平面試樣旋轉裝置

X射線發生器

閉式循環冷水機

帶電源的X射線安全盒

適配670.31 CCD 的商用高溫計

適配670.2/5的目鏡照相機

img10

G670的主要技術參數:

計數點(max.):20001

2-Theta范圍 (max.) :100°

2-Theta 步長:0.005°

A/D 分辨率:16 Bit

動態范圍(multi-scan):~200000 counts

讀出時間:<5 sec

擦除時間:10 sec

焦圓半徑:90 mm.

硬件要求:

X射線光源:0.4*8 mm2垂直細線焦點

臺面以上橫梁高度:~275mm

桌面面積:~600*500mm2

19”機架,3個高度單位

img11

 

該系統以Guinier高分辨率相機為主要核心組件,通過在此基礎上搭建不同配置組件的系統,以響應客戶對不同條件下粉末試樣進行高精度測量的需求。

 

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